磁性薄膜の磁気光学スペクトル（試料表面で直線偏光が反射したときの偏波面の回転角の波長依存性）を測定します．
装置仕様
研究室の自作 極Kerr回転角およびKerr楕円率の測定（偏光面変調法） 磁界：16 kOe 測定波長範囲：260 nm〜1500 nm 測定感度：0.002 deg 測定温度：77 K〜約400 K
もどる
