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薄膜表面形状および磁気構造を測定します．プローブ位置を制御した微細加工も可能です．

装置仕様

Digital Instruments社製　Dimeinsion3100+Nonoscope IV
測定モード　AFM（コンタクト，タッピング，ノンコンタクト）
　　　　　　STM，MFM，EFM，LFM
　　　　　　表面電位顕微鏡，電流像，リソグラフィー
スキャン領域：XY方向　約90μm，Z方向　約6μm
試料サイズ：最大150 mmφ−12 mmt
防音フード有

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